Rövidített megjelenítés

Concentration dependent pair-correlation in amorphous Si1−xGex layers revealed by micro-combinatorial TEM

Cora, János
Lábár, János L.
Sáfrán, György
Fried, Miklós
2026-10-19T11:58:07Z
2026-10-19T11:58:07Z
2020
http://hdl.handle.net/20.500.14044/40882
dc.formatpdfhu_HU
enhu_HU
Concentration dependent pair-correlation in amorphous Si1−xGex layers revealed by micro-combinatorial TEMhu_HU
Open accesshu_HU
Óbudai Egyetemhu_HU
2020. Szeptember 23-25.hu_HU
Budapesthu_HU
Kandó Kálmán Villamosmérnöki Karhu_HU
Óbudai Egyetemhu_HU
Műszaki tudományok - anyagtudományok és technológiákhu_HU
concentration dependent atomic distancehu_HU
amorphous sigehu_HU
gradient combinatorial samplehu_HU
whole concentration rangehu_HU
vegard’s rule-like behaviourhu_HU
Konferenciaközleményhu_HU
Anyagtudományi Szimpózium (Symposium on Materials Science)hu_HU
local.tempfieldCollectionsKönyvrészletekhu_HU
6.hu_HU
Kiadói változathu_HU
5 p.hu_HU
Anyagtudományi Szimpóziumhu_HU
978-963-449-236-8hu_HU
2020hu_HU
Óbudai Egyetemhu_HU
Budapesthu_HU


A dokumentumhoz tartozó fájlok

Thumbnail
Név:
978-963-449-236-8 _ 06.pdf
Méret:
445.1KB
Formátum:
PDF
Megtekintés/Megnyitás

A dokumentum a következő gyűjtemény(ek)ben található meg

Rövidített megjelenítés