Óbudai Egyetem Digitális Archívum
    • magyar
    • English
  • English 
    • magyar
    • English
  • Login
View Item 
  •   DSpace Home
  • 5. Folyóiratcikkek
  • Biztonságtudományi Szemle
  • 3. 2023.
  • 3. 2023 Volume 5, Issue 3.
  • View Item
  •   DSpace Home
  • 5. Folyóiratcikkek
  • Biztonságtudományi Szemle
  • 3. 2023.
  • 3. 2023 Volume 5, Issue 3.
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Biztonságkritikus beágyazott rendszerek analóg részegységeinek vizsgálatát támogató bővítés a soros vektoros formátum specifikációjához

Thumbnail
View/Open
document-34.pdf (872.8Kb)
Metadata
Show full item record
URI
http://hdl.handle.net/20.500.14044/35590
Collections
  • 3. 2023 Volume 5, Issue 3. [14]
Abstract
A biztonságkritikus beágyazott rendszerekben a beépített önteszt fontos eszköz a megbízhatóság növelésére. A beépített önteszt megoldásai digitális áramköri egységekre sokkal kidolgozottabbak, mint az analóg áramkörökre. Jelen tanulmányomban célom, hogy az itt ismertetett megoldással segítsem az analóg áramköri részegységek beépített öntesztbe vonását. Ezt olyan módon igyekszem elérni, hogy a digitális áramkörök peremfigyeléses teszteléséhez használt SVF specifikációt kibővítem. A kibővített parancskészlett el lehetővé válik az analóg alkatrészek vagy részegységek paramétereinek méréséhez szükséges gerjesztő áramjelek előállítása, és az áramkör válaszfeszültségeinek érzékelése, megmérése.
 
In safety-critical embedded systems, the built-in self-test is an important tool to increase reliability. Embedded self-test solutions for digital circuits are much more sophisticated than for analog circuits. In this paper, my goal is to facilitate the builtin self-testing of analog circuit components and subcircuits using the solution described here. I am trying to achieve this by extending the SVF specification used for boundary scan testing of digital circuits. With the extended command set, it is possible to generate excitation current signals to measure the parameters of analog components or subcircuits, and to detect and measure the response voltages of the circuit.
 
Title
Biztonságkritikus beágyazott rendszerek analóg részegységeinek vizsgálatát támogató bővítés a soros vektoros formátum specifikációjához
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-title-alternative
Extension to the serial vector format specification supporting testing of analog units of safety-critical embedded systems
Author
Molnár, Zsolt
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-date-issued
2023
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-rights-access
Open access
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-identifier-issn
2676-9042
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-language
hu
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-format-page
13 p.
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-subject-oszkar
safety critical embedded system, built - in selftes, boundary scan, IEEE 1149, SVF, mixed signal testing, biztonságkritikus beágyazott rendszer, beépített önteszt, peremfigyelés, IEEE 1149, kevert jelű vizsgálat
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-description-version
Kiadói változat
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-other-containerTitle
Biztonsgátudományi Szemle
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-other-containerPeriodicalYear
2023
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-other-containerPeriodicalVolume
5. évf.
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-other-containerPeriodicalNumber
3. sz.
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-type-type
Tudományos cikk
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-subject-area
Műszaki tudományok - multidiszciplináris műszaki tudományok
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-publisher-university
Óbudai Egyetem
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-publisher-faculty
Bánki Donát Gépész és Biztonságtechnikai Mérnöki Kar

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contact Us | Send Feedback
Theme by 
Atmire NV
 

 

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjects

My Account

LoginRegister

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contact Us | Send Feedback
Theme by 
Atmire NV