Show simple item record

Molnár, Zsolt
2025-11-19T07:54:29Z
2025-11-19T07:54:29Z
2023
2676-9042hu_HU
http://hdl.handle.net/20.500.14044/35590
A biztonságkritikus beágyazott rendszerekben a beépített önteszt fontos eszköz a megbízhatóság növelésére. A beépített önteszt megoldásai digitális áramköri egységekre sokkal kidolgozottabbak, mint az analóg áramkörökre. Jelen tanulmányomban célom, hogy az itt ismertetett megoldással segítsem az analóg áramköri részegységek beépített öntesztbe vonását. Ezt olyan módon igyekszem elérni, hogy a digitális áramkörök peremfigyeléses teszteléséhez használt SVF specifikációt kibővítem. A kibővített parancskészlett el lehetővé válik az analóg alkatrészek vagy részegységek paramétereinek méréséhez szükséges gerjesztő áramjelek előállítása, és az áramkör válaszfeszültségeinek érzékelése, megmérése.hu_HU
In safety-critical embedded systems, the built-in self-test is an important tool to increase reliability. Embedded self-test solutions for digital circuits are much more sophisticated than for analog circuits. In this paper, my goal is to facilitate the builtin self-testing of analog circuit components and subcircuits using the solution described here. I am trying to achieve this by extending the SVF specification used for boundary scan testing of digital circuits. With the extended command set, it is possible to generate excitation current signals to measure the parameters of analog components or subcircuits, and to detect and measure the response voltages of the circuit.hu_HU
dc.formatPDFhu_HU
huhu_HU
Biztonságkritikus beágyazott rendszerek analóg részegységeinek vizsgálatát támogató bővítés a soros vektoros formátum specifikációjáhozhu_HU
Extension to the serial vector format specification supporting testing of analog units of safety-critical embedded systemshu_HU
Open accesshu_HU
Óbudai Egyetemhu_HU
Budapesthu_HU
Bánki Donát Gépész és Biztonságtechnikai Mérnöki Karhu_HU
Óbudai Egyetemhu_HU
Műszaki tudományok - multidiszciplináris műszaki tudományokhu_HU
safety critical embedded systemhu_HU
built - in selfteshu_HU
boundary scanhu_HU
IEEE 1149hu_HU
SVFhu_HU
mixed signal testinghu_HU
biztonságkritikus beágyazott rendszerhu_HU
beépített önteszthu_HU
peremfigyeléshu_HU
IEEE 1149hu_HU
kevert jelű vizsgálathu_HU
Tudományos cikkhu_HU
Biztonsgátudományi Szemlehu_HU
local.tempfieldCollectionsFolyóiratcikkekhu_HU
Kiadói változathu_HU
13 p.hu_HU
3. sz.hu_HU
5. évf.hu_HU
2023hu_HU
Óbudai Egyetemhu_HU


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record