Óbudai Egyetem Digitális Archívum
    • magyar
    • English
  • magyar 
    • magyar
    • English
  • Bejelentkezés
Megtekintés 
  •   ÓDA repozitórium kezdőoldal
  • 5. Folyóiratcikkek
  • Biztonságtudományi Szemle
  • 3. 2023.
  • 3. 2023 Volume 5, Issue 3.
  • Megtekintés
  •   ÓDA repozitórium kezdőoldal
  • 5. Folyóiratcikkek
  • Biztonságtudományi Szemle
  • 3. 2023.
  • 3. 2023 Volume 5, Issue 3.
  • Megtekintés
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Biztonságkritikus beágyazott rendszerek analóg részegységeinek vizsgálatát támogató bővítés a soros vektoros formátum specifikációjához

Thumbnail
Megtekintés/Megnyitás
document-34.pdf (872.8KB)
Metaadat
Teljes megjelenítés
Link a dokumentumra való hivatkozáshoz:
http://hdl.handle.net/20.500.14044/35590
Gyűjtemény
  • 3. 2023 Volume 5, Issue 3. [14]
Absztrakt
A biztonságkritikus beágyazott rendszerekben a beépített önteszt fontos eszköz a megbízhatóság növelésére. A beépített önteszt megoldásai digitális áramköri egységekre sokkal kidolgozottabbak, mint az analóg áramkörökre. Jelen tanulmányomban célom, hogy az itt ismertetett megoldással segítsem az analóg áramköri részegységek beépített öntesztbe vonását. Ezt olyan módon igyekszem elérni, hogy a digitális áramkörök peremfigyeléses teszteléséhez használt SVF specifikációt kibővítem. A kibővített parancskészlett el lehetővé válik az analóg alkatrészek vagy részegységek paramétereinek méréséhez szükséges gerjesztő áramjelek előállítása, és az áramkör válaszfeszültségeinek érzékelése, megmérése.
 
In safety-critical embedded systems, the built-in self-test is an important tool to increase reliability. Embedded self-test solutions for digital circuits are much more sophisticated than for analog circuits. In this paper, my goal is to facilitate the builtin self-testing of analog circuit components and subcircuits using the solution described here. I am trying to achieve this by extending the SVF specification used for boundary scan testing of digital circuits. With the extended command set, it is possible to generate excitation current signals to measure the parameters of analog components or subcircuits, and to detect and measure the response voltages of the circuit.
 
Cím és alcím
Biztonságkritikus beágyazott rendszerek analóg részegységeinek vizsgálatát támogató bővítés a soros vektoros formátum specifikációjához
Cím és alcím más nyelven
Extension to the serial vector format specification supporting testing of analog units of safety-critical embedded systems
Szerző
Molnár, Zsolt
Megjelenés ideje
2023
Hozzáférés szintje
Open access
ISSN, e-ISSN
2676-9042
Nyelv
hu
Terjedelem
13 p.
Tárgyszó
safety critical embedded system, built - in selftes, boundary scan, IEEE 1149, SVF, mixed signal testing, biztonságkritikus beágyazott rendszer, beépített önteszt, peremfigyelés, IEEE 1149, kevert jelű vizsgálat
Változat
Kiadói változat
A cikket/könyvrészletet tartalmazó dokumentum címe
Biztonsgátudományi Szemle
A forrás folyóirat éve
2023
A forrás folyóirat évfolyama
5. évf.
A forrás folyóirat száma
3. sz.
Műfaj
Tudományos cikk
Tudományterület
Műszaki tudományok - multidiszciplináris műszaki tudományok
Egyetem
Óbudai Egyetem
Kar
Bánki Donát Gépész és Biztonságtechnikai Mérnöki Kar

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Kapcsolat | Visszajelzés
Theme by 
Atmire NV
 

 

Böngészés

A teljes ÓDA-banKategóriák és gyűjteményekMegjelenés dátumaSzerzőCímTárgyszóA gyűjteménybenMegjelenés dátumaSzerzőCímTárgyszó

Személyes felhasználói fiók

BejelentkezésRegisztráció

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Kapcsolat | Visszajelzés
Theme by 
Atmire NV