NBIS alapú minőségvizsgálat infravörös technológiával készített rejtett   ujjlenyomat képeken

Témavezető	Dr. Vámossy Zoltán
Témavezető	Prof. Dr. Eberhard Schultheiss
Szerző	Magyar Bálint
Utolsó hozzáférés ideje	2016-10-03 13:21:32
Utolsó hozzáférés ideje	2023-06-07T16:34:59Z
Elérhető	2023-06-07T16:34:59Z
Megjelenés ideje	2016
Közvetlen link	http://hdl.handle.net/20.500.14044/19851
dc.format	pdf
Nyelv	HUN
Kiadó	Óbudai Egyetem
Cím és alcím	NBIS alapú minőségvizsgálat infravörös technológiával készített rejtett ujjlenyomat képeken
Hozzáférés szintje	Teljes szöveg csak az Óbudai Egyetem IP tartományában elérhető!
Copyright	Óbudai Egyetem
Kiadás helye	Budapest
Kar	Neumann János Informatikai Kar
Egyetem	Óbudai Egyetem
Műfaj	szakdolgozat
dc.description.collection	Hallgatói dolgozatok / szakdolgozatok