NBIS alapú minőségvizsgálat infravörös technológiával készített rejtett ujjlenyomat képeken

Thumbnail
Megtekintés/Megnyitás
Metaadat
Teljes megjelenítés
Link a dokumentumra való hivatkozáshoz:
http://hdl.handle.net/20.500.14044/19851
Gyűjtemény
Cím és alcím
NBIS alapú minőségvizsgálat infravörös technológiával készített rejtett ujjlenyomat képeken
Szerző
Magyar Bálint
Megjelenés ideje
2016
Témavezető
Dr. Vámossy Zoltán
Prof. Dr. Eberhard Schultheiss
Hozzáférés szintje
Teljes szöveg csak az Óbudai Egyetem IP tartományában elérhető!
Kiadó
Óbudai Egyetem
Nyelv
HUN
Műfaj
szakdolgozat
Egyetem
Óbudai Egyetem
Kar
Neumann János Informatikai Kar