Show simple item record

Dr. Vámossy Zoltán
Prof. Dr. Eberhard Schultheiss
Magyar Bálint
2016-10-03 13:21:32
2023-06-07T16:34:59Z
2023-06-07T16:34:59Z
2016
http://hdl.handle.net/20.500.14044/19851
dc.formatpdf
HUN
Óbudai Egyetem
NBIS alapú minőségvizsgálat infravörös technológiával készített rejtett ujjlenyomat képeken
Teljes szöveg csak az Óbudai Egyetem IP tartományában elérhető!
Óbudai Egyetem
Budapest
Neumann János Informatikai Kar
Óbudai Egyetem
szakdolgozat
dc.description.collectionHallgatói dolgozatok / szakdolgozatok


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record