Rövidített megjelenítés

Bánhidi, Bence
2026-07-19T06:13:45Z
2026-07-19T06:13:45Z
2025
http://hdl.handle.net/20.500.14044/39791
dc.formatPDFhu_HU
huhu_HU
dc.subjectLézeres Interferométeres mérés, SIOS SP készülék, Mikrométerorsó kalibrálásahu_HU
SIOS interferométerrel történő méretmeghatározáshu_HU
Dimensional Measurement Using SIOS Interferometerhu_HU
Open accesshu_HU
Óbudai Egyetemhu_HU
2025
Budapesthu_HU
Bánki Donát Gépész és Biztonságtechnikai Mérnöki Karhu_HU
Óbudai Egyetemhu_HU
Óbudai Egyetemhu_HU
Műszaki tudományok - multidiszciplináris műszaki tudományokhu_HU
Szakdolgozathu_HU
local.tempfieldCollectionsHallgatói dolgozatokhu_HU
62 p.hu_HU
local.consultantNameHorváthné Dr. Drégelyi-Kiss, Ágota


A dokumentumhoz tartozó fájlok

Thumbnail

A dokumentum a következő gyűjtemény(ek)ben található meg

Rövidített megjelenítés