Automatizált tesztkörnyezet fejlesztése a CERN Beam Instrumentation új generációs adatgyűjtő kártyáihoz

Thumbnail
Megtekintés/Megnyitás
Metaadat
Teljes megjelenítés
Link a dokumentumra való hivatkozáshoz:
http://hdl.handle.net/20.500.14044/15020
Gyűjtemény
Cím és alcím
Automatizált tesztkörnyezet fejlesztése a CERN Beam Instrumentation új generációs adatgyűjtő kártyáihoz
Szerző
Szűk Bálint
Megjelenés ideje
2016
Témavezető
Dr. Schuster György
Hozzáférés szintje
Teljes szöveg csak az Óbudai Egyetem IP tartományában elérhető!
Kiadó
Óbudai Egyetem
Nyelv
HUN
Műfaj
szakdolgozat
Egyetem
Óbudai Egyetem
Kar
Kandó Kálmán Villamosmérnöki Kar