| Fried, Miklós | |
| Zereay, Berhane Nugusse | |
| 2026-05-05T08:53:38Z | |
| 2026-05-05T08:53:38Z | |
| 2026 | |
| http://hdl.handle.net/20.500.14044/38377 | |
| dc.format | PDF | hu_HU |
| en | hu_HU |
| dc.subject | optikai leképezés; spektroszkópos ellipsometria; anyagtudomány, roncsolásmentes vizsgálat (NDT); Non Destructive Testing | hu_HU |
| Development of Non-Destructive Optical Mapping Tools without Moving Parts for Macro- and Micro-Scale Spectroscopic Ellipsometry | hu_HU |
| n.a. | hu_HU |
| Open access | hu_HU |
| Óbudai Egyetem | hu_HU |
| 2026 | |
| Budapest | hu_HU |
| local.doctoralSchool | Anyagtudományok és Technológiák Doktori Iskola | hu_HU |
| Óbudai Egyetem | hu_HU |
| Műszaki tudományok - anyagtudományok és technológiák | hu_HU |
| Doktori (Ph.D.) értekezés / Ph.D. Thesis | hu_HU |
| local.tempfieldCollections | Disszertációk | hu_HU |
| Kiadói változat | hu_HU |
| 108 p. | hu_HU |