Show simple item record

Fried, Miklós
Zereay, Berhane Nugusse
2026-05-05T08:53:38Z
2026-05-05T08:53:38Z
2026
http://hdl.handle.net/20.500.14044/38377
dc.formatPDFhu_HU
enhu_HU
dc.subjectoptikai leképezés; spektroszkópos ellipsometria; anyagtudomány, roncsolásmentes vizsgálat (NDT); Non Destructive Testinghu_HU
Development of Non-Destructive Optical Mapping Tools without Moving Parts for Macro- and Micro-Scale Spectroscopic Ellipsometryhu_HU
n.a.hu_HU
Open accesshu_HU
Óbudai Egyetemhu_HU
2026
Budapesthu_HU
local.doctoralSchoolAnyagtudományok és Technológiák Doktori Iskolahu_HU
Óbudai Egyetemhu_HU
Műszaki tudományok - anyagtudományok és technológiákhu_HU
Doktori (Ph.D.) értekezés / Ph.D. Thesishu_HU
local.tempfieldCollectionsDisszertációkhu_HU
Kiadói változathu_HU
108 p.hu_HU


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record